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你(ni)現在的位(wei)置(zhi):茄子直播app苹果版>>產品(pin)中心四探針電(dian)阻率(lv)方阻測試(shi)儀ST2258C型多功(gong)能數字(zi)式四(si)探(tan)針測試儀ST2258C型多功能數字式四探針測試儀
ST2258C型多功能數字式四探針測試儀
ST2258C型多(duo)功能數(shu)字式四探針(zhen)測試儀
蘇州茄子直播app官网電子有限公司自主研發生產ST2258C多功能四探針測試儀,電阻率測試儀,方阻測試儀,半導體薄片電阻率測試儀
產品類別: ST2258C型多功能數字式四探針測試儀
上架時間: 2013/10/11 21:19:18
瀏覽次數: 49746
產品詳細
一、 結構(gou)特(te)征
 
ST2258C多功能四探針測試儀
二(er)、概述(shu)
      ST2258C型多功能數字式四探針測(ce)試儀(yi)是運用四探針測量(liang)原理(li)測試電阻(zu)率/方(fang)阻的多用(yong)途(tu)綜合(he)測量儀器(qi)。該(gai)儀器設(she)計(ji)符(fu)合GB/T 1551-2009 《矽(xi)單(dan)晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《矽(xi)、鍺單晶電阻率測定直流(liu)兩探針法》、GB/T 1552-1995《矽(xi)、鍺(duo)單晶電阻率測定(ding)直流四探針法》並參(can)考美(mei)國 A.S.T.M 標準。
      儀器成套組成(cheng):由主(zhu)機、選(xuan)配(pei)的(de)四探針探頭、測試台等部分組成。
主機主要由精(jing)密恒(heng)流源、高分辨(bian)率ADC、嵌(qian)入(ru)式單片機(ji)係(xi)統組(zu)成。儀器所有參數設定、功能轉換全(quan)部采(cai)用數字化(hua)鍵盤(pan)輸(shu)入;具有零(ling)位、滿度自(zi)校(xiao)功能;電壓(ya)電流全自動轉換量程(cheng);測試結(jie)果由(you)數字表頭(tou)直接顯示(shi)。本(ben)測試儀特贈設測試結果分(fen)類功能(neng),分(fen)類10類。
      探頭選配:根據不同材料特性(xing)需(xu)要,探頭可(ke)有多款(kuan)選配。有(you)高(gao)耐(nai)磨碳化鎢探針探頭,以測試矽類半導體、金(jin)屬(shu)、導電塑料(liao)類(lei)等硬(ying)質(zhi)材(cai)料的電阻率/方阻;也(ye)有球(qiu)形(xing)鍍金銅合金探針探頭,可測柔(rou)性材料導電薄膜(mo)、金(jin)屬(shu)塗層或薄膜、陶(tao)瓷或(huo)玻(bo)璃等(deng)基底上導電膜(ITO膜)或納米塗層等半(ban)導(dao)體(ti)材料的電阻率/方阻。換上(shang)四端子測試夾(jia)具(ju),還(hai)可對(dui)電阻器體電阻、金(jin)屬(shu)導體的低、中值(zhi)電阻以及(ji)開關(guan)類接(jie)觸電阻進行(xing)測量。配專用探頭,也可測試電池極(ji)片等箔上塗層電阻率方阻。
      測試台選配:一(yi)般(ban)四探針法(fa)測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試台。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試台,也可選配SZT-D型測試台以(yi)測試半導體粉末(mo)電阻率,選配SZT-G型(xing)測試台測試橡塑(su)材料電阻率。詳見(jian)《四探針儀器、探頭和測試台的特點與(yu)選型參考(kao)》
儀器具有測量精度(du)高、靈(ling)敏度高、穩(wen)定性好、智能化程度高、結構緊(jin)湊、使(shi)用簡(jian)便(bian)等特點。
儀器適用於半導體材料廠器件廠(chang)、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三(san)、基(ji)本技(ji)術(shu)參數
1. 測量範圍(wei)、分辨率(括號內(nei)為可向下(xia)拓(tuo)展(zhan)1個數量級)
    電    阻:10.0×10-6 Ω,    分辨率1.0×10-6
-6 Ω,    分辨率0.1×10-3
    電 阻 率:10.0×10-63 Ω-cm   分辨率1.0×10-6
-6Ω-cm  分辨率0.1×10-63
    方塊(kuai)電阻:50.0×10-66 Ω/□    分辨率5.0×10-6
-63 Ω/□  分辨率0.5×10-6
2. 材料尺寸(cun)(由選配測試台和測試方式(shi)決定)
    直    徑: SZT-A圓測試台(tai)直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
    SZT-B/C/F方測試台直接測試方式180mm×180mm,手(shou)持(chi)方式不限.
     長(zhang)(高)度:  測試台直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
     測量方位:  軸向(xiang)、徑向均可
3. 量程劃(hua)分及誤差等級(ji) 
滿度顯示
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
常規量程
kΩ-cm/□
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
---
最大拓展量程
---
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
mΩ-cm/□
基本誤(wu)差
±2%FSB
±4LSB
±1.5%FSB
±4LSB
±0.5%FSB±2LSB
±0.5%FSB
±4LSB
±1.0%FSB
±4LSB
 
4.工(gong)作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5.外(wai)形尺(chi)寸: 245mm(長)×220 mm(寬)×95mm(高) 
   淨   重(zhong):≤1.5~2.0kg
四、聯(lian)係方式:13656225155/66050595(傳(chuan)真(zhen))  QQ:2851706351 丁先(xian)生
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