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你現在的位置:茄子直播app苹果版>>產品中心四探針電阻率方阻(zu)測試儀ST2263型(xing)雙電(dian)測數字(zi)式四探(tan)針測試(shi)儀(yi)ST2263型雙電測數字式四探針測試儀
ST2263型雙電測數字式四探針測試儀
ST2263型雙(shuang)電測(ce)數字式四(si)探針(zhen)測試儀
ST2263型雙電測數字式四探針測試儀,雙電測方塊電阻測試儀
產品類別: ST2263型雙電測數字式四探針測試儀
上架時間: 2013/4/30 18:28:47
瀏覽次數: 42043
產品詳細
  ST2263型雙電測數字式四探針測試儀ST2263型雙電測數(shu)字式四探針測試儀簡介(jie)

一(yi) 結(jie)構(gou)特(te)征(zheng)

雙電測方塊電阻測試儀,薄膜測試儀  石墨碳素電阻率測試儀
 
         ST2263型雙電測數字式四探針測試儀
電阻率測試儀
  ST2263 軟件界麵
  ST2263型雙電測數字式四探針測試儀    雙電測方塊電阻測試儀
 
   配S2253-F01鎢針探頭(tou)測矽片(pian)      配ST2558B-F01探頭測試ITO薄(bao)膜
 
二、概(gai)述
     ST2263型雙電測數字式四探針測試儀是運(yun)用直線或(huo)方形(xing)四探針雙位測-改(gai)進(jin)形範(fan)德(de)堡(bao)測量方法(fa)測試電阻率(lv)/方(fang)阻的多(duo)用途綜合(he)測量(liang)儀器。該(gai)儀器(qi)設計符(fu)合單(dan)晶(jing)矽物(wu)理(li)測試方法國家標(biao)準並(bing)參考(kao)美(mei)國 A.S.T.M 標準。利(li)用(yong)電流(liu)探針、電壓探針的變(bian)換(huan),進行兩(liang)次電測量,對數據進行雙電測分析(xi),自(zi)動消(xiao)除樣(yang)品(pin)幾(ji)何尺寸(cun)、邊界(jie)效(xiao)應以(yi)及探針不(bu)等(deng)距(ju)和機械(xie)遊移等因(yin)素(su)對(dui)測量結果的影(ying)響,它(ta)與單電測直線(xian)或方形四探針相比(bi),大(da)大提(ti)高正(zheng)確(que)度,特別(bie)是適(shi)用於(yu)斜置(zhi)式四探針對於微(wei)區(qu)的(de)測試。
儀器成(cheng)套組(zu)成:由(you)主(zhu)機(ji)、選配(pei)的四探針探頭、測試台(tai)以及(ji)PC軟(ruan)件(jian)等部分組成。
     主機主要(yao)由精(jing)密恒(heng)流源(yuan)、高分辨率ADC、嵌入(ru)式單片機係(xi)統(tong)組成,USB通(tong)訊(xun)接(jie)口。儀器主機所有(you)參(can)數設定、功能(neng)轉換全部(bu)采(cai)用數字化鍵(jian)盤(pan)和(he)數碼(ma)開(kai)關(guan)輸(shu)入;具有零(ling)位(wei)、滿度自校(xiao)功能;測試功(gong)能可自動/手(shou)動方式;儀器操(cao)作(zuo)可(ke)由配套軟件在PC機上(shang)操作完(wan)成,也可脫PC機由四探針儀器麵板上獨立(li)操作完成。測試結果數據(ju)由主機數碼管直接顯(xian)示(shi),也可連(lian)機由軟件界麵同(tong)步(bu)顯示、分(fen)析、保(bao)存和打印!
探頭選配:根據不同材料特性(xing)需要,探頭可有多款選配。有高耐磨(mo)碳化(hua)鎢探針探頭,以測試矽類半(ban)導(dao)體(ti)、金(jin)屬、導電塑(su)料類(lei)等硬質材料(liao)的電阻率/方阻;也有球形鍍(du)金銅(tong)合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜(mo)、金(jin)屬塗層或薄膜、陶(tao)瓷(ci)或玻(bo)璃等基底上導電膜(ITO膜)或納(na)米塗(tu)層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具(ju),還(hai)可對電阻器體電阻、金(jin)屬導體的低、中(zhong)值電阻以及開關類接觸(chu)電阻進行測量。
測試台選(xuan)配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試台。
     儀器具有測量精度高(gao)、靈(ling)敏(min)度高、穩(wen)定性好、智能化程(cheng)度高、測量簡便(bian)、結構緊湊、使(shi)用方便等特點。
     儀器適用於半導體材(cai)料廠器件廠(chang)、科(ke)研單位、高等院(yuan)校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試,特別是適用於斜置式四探針對於微區的測試。
三、基(ji)本技(ji)術(shu)參數
3.1  測量範圍(wei)
    電阻率:1×10-45 Ω-cm,分辨(bian)率:1×10-52
    方  阻:5×10-45 Ω/□,分辨率:5×10-52
    電  阻:1×10-55 Ω   ,分辨率:1×10-62
3.2  材料尺(chi)寸(由選配測試台決定和測試方式決(jue)定(ding))
    直    徑:SZT-A圓測試台直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限(xian)
    SZT-B/C/F方測試台直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
    長(zhang)(高)度(du):測試台直接測試方式 H≤100mm,    手持(chi)方式不限.
    測量方位: 軸向(xiang)、徑向均(jun)可
3.3.  4-1/2 位數字電壓(ya)表:
    (1)量程: 20.00mV~2000mV
    (2)誤(wu)差(cha):±0.1%讀數±2 字
3.4  數控恒流源
   (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A
   (2)誤差:±0.1%讀(du)數±2 字
3.5  四探針探頭(選配其一或加(jia)配全部)
   (1)碳(tan)化鎢(wu)探針:Φ0.5mm,直線探針間(jian)距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調
   (2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力(li): 0~0.6kg 可調(diao)
3.6 電源
   輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗:<20W
3.7 外形尺寸:
   主機  220mm(長)×245 mm(寬)×100mm(高)
四、詳(xiang)情(qing)請(qing)登陸蘇州(zhou)茄子直播app官网電子有限公司(si)官方網(wang)站(zhan)http://www.gzqdcg.com/x-third-part  或
     查看(kan)《ST2263型雙電測數字式四探針測試儀技術使用說(shuo)明書(shu)》

五(wu)、聯(lian)係方式(shi):13656225155/0512-80973697    QQ:2851706351 丁(ding)先(xian)生(sheng)

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